Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23326
Название: Анализ показателей надежности двухпозиционного диодного модуля МДХ-660-18-A2
Авторы: Колесов, И. В.
Кравченко, Евгений Владимирович
Ключевые слова: надежность; диодные модули; полупроводниковые модули; полупроводниковые приборы
Дата публикации: 2014
Библиографическое описание: Колесов И. В. Анализ показателей надежности двухпозиционного диодного модуля МДХ-660-18-A2 / И. В. Колесов, Е. В. Кравченко // Теплофизические основы энергетических технологий : сборник статей V Всероссийской научной конференции с международным участием, 15-17 октября 2014 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — [С. 205-209].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23326
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
conference_tpu-2014-C02-044.pdf598,16 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.