Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332
Название: Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении
Авторы: Курмангалиев, Р. Х.
Кравченко, Евгений Владимирович
Ключевые слова: показатели; надежность; диоды; силовые полупроводниковые диоды; силовые полупроводниковые приборы; числовое моделирование
Дата публикации: 2014
Библиографическое описание: Курмангалиев Р. Х. Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении / Р. Х. Курмангалиев, Е. В. Кравченко // Теплофизические основы энергетических технологий : сборник статей V Всероссийской научной конференции с международным участием, 15-17 октября 2014 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — [С. 258-262].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
conference_tpu-2014-C02-052.pdf563,37 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.