Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332| Название: | Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении |
| Авторы: | Курмангалиев, Р. Х. Кравченко, Евгений Владимирович |
| Ключевые слова: | показатели; надежность; диоды; силовые полупроводниковые диоды; силовые полупроводниковые приборы; числовое моделирование |
| Дата публикации: | 2014 |
| Библиографическое описание: | Курмангалиев Р. Х. Методы исследования показателей надежности низкочастотного диода типа Д123-500 в таблеточном исполнении / Р. Х. Курмангалиев, Е. В. Кравченко // Теплофизические основы энергетических технологий : сборник статей V Всероссийской научной конференции с международным участием, 15-17 октября 2014 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — [С. 258-262]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23332 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2014-C02-052.pdf | 563,37 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.