Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Крючков, Юрий Юрьевич | ru |
| dc.contributor.author | Малютин, В. М. | ru |
| dc.contributor.author | Пичугин, Владимир Федорович | ru |
| dc.contributor.author | Сохорева, Валентина Викторовна | ru |
| dc.contributor.author | Франгульян, Тамара Семёновна | ru |
| dc.date.accessioned | 2015-11-20T02:56:44Z | - |
| dc.date.available | 2015-11-20T02:56:44Z | - |
| dc.date.issued | 2000 | - |
| dc.identifier.citation | Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков / Ю. Ю. Крючков [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2000. — Т. 303, вып. 3. — [С. 12-21]. | ru |
| dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104 | - |
| dc.description.abstract | В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO. | ru |
| dc.format.mimetype | application/pdf | - |
| dc.language.iso | ru | en |
| dc.publisher | Томский политехнический университет | ru |
| dc.relation.ispartof | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. 2000. Т. 303, вып. 3 | - |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en |
| dc.source | Известия Томского политехнического университета | - |
| dc.subject | диэлектрики | - |
| dc.subject | ионное облучение | - |
| dc.subject | ядерный микроанализ | - |
| dc.subject | обратное рассеяние | - |
| dc.subject | спектроскопические методы | - |
| dc.subject | разработка | - |
| dc.subject | применение | - |
| dc.title | Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков | ru |
| dc.type | Article | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/article | en |
| dcterms.audience | Researches | en |
| local.description.firstpage | 12 | - |
| local.description.lastpage | 21 | - |
| local.filepath | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2000/v303/i3/02.pdf | - |
| local.identifier.bibrec | RU\TPU\book\176652 | - |
| local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\25821 | - |
| local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\25824 | - |
| local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\28149 | - |
| local.identifier.perskey | RU\TPU\pers\26534 | - |
| local.issue | 3 | - |
| local.localtype | Статья | ru |
| local.volume | 303 | - |
| Располагается в коллекциях: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-2000-303-3-02.pdf | 5,5 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.