Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104| Название: | Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков |
| Авторы: | Крючков, Юрий Юрьевич Малютин, В. М. Пичугин, Владимир Федорович Сохорева, Валентина Викторовна Франгульян, Тамара Семёновна |
| Ключевые слова: | диэлектрики; ионное облучение; ядерный микроанализ; обратное рассеяние; спектроскопические методы; разработка; применение |
| Дата публикации: | 2000 |
| Издатель: | Томский политехнический университет |
| Библиографическое описание: | Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков / Ю. Ю. Крючков [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2000. — Т. 303, вып. 3. — [С. 12-21]. |
| Аннотация: | В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104 |
| Располагается в коллекциях: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-2000-303-3-02.pdf | 5,5 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.