Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104
Название: Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков
Авторы: Крючков, Юрий Юрьевич
Малютин, В. М.
Пичугин, Владимир Федорович
Сохорева, Валентина Викторовна
Франгульян, Тамара Семёновна
Ключевые слова: диэлектрики; ионное облучение; ядерный микроанализ; обратное рассеяние; спектроскопические методы; разработка; применение
Дата публикации: 2000
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков / Ю. Ю. Крючков [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2000. — Т. 303, вып. 3. — [С. 12-21].
Аннотация: В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104
Располагается в коллекциях:Известия ТПУ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
bulletin_tpu-2000-303-3-02.pdf5,5 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.