Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104
Title: Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков
Authors: Крючков, Юрий Юрьевич
Малютин, В. М.
Пичугин, Владимир Федорович
Сохорева, Валентина Викторовна
Франгульян, Тамара Семёновна
Keywords: диэлектрики; ионное облучение; ядерный микроанализ; обратное рассеяние; спектроскопические методы; разработка; применение
Issue Date: 2000
Publisher: Томский политехнический университет
Citation: Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков / Ю. Ю. Крючков [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2000. — Т. 303, вып. 3. — [С. 12-21].
Abstract: В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104
Appears in Collections:Известия ТПУ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
bulletin_tpu-2000-303-3-02.pdf5,5 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.