Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/34693
Название: Simulation of the Sample Alignment Process for the White Beam Tomography
Авторы: Ozdiev, Ali Hosenovich
Liventsov, Sergey Nikolaevich
Ключевые слова: моделирование процесса; томография; синтетические кристаллы; дефекты; выравнивание
Дата публикации: 2016
Издатель: IOP Publishing
Библиографическое описание: Ozdiev A. H. Simulation of the Sample Alignment Process for the White Beam Tomography / A. H. Ozdiev, S. N. Liventsov // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2016. — Vol. 142 : Innovative Technologies in Engineering : VII International Scientific Practical Conference, 19–21 May 2016, Yurga, Russian Federation : [proceedings]. — [012039, 8 p.].
Аннотация: Nowadays growth of synthetic crystals is a very prospective direction of research activity. However, it is well known that in synthesized crystals there are still many defects and the main idea is to synthesize crystal of ideal form and structure. But in purpose to remove defects first you have to characterize them. This paper describes the method for the characterization of such defects and mainly concentrates on the problem of sample alignment procedure, offering the way to avoid misalignments.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/34693
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1757-899X-142-1-012039.pdf989,17 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.