Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/36989| Title: | Разработка эталонной модели качества полупроводникового производства на основе факторного и кластерного анализа |
| Authors: | Воскобойникова, Ольга Борисовна Ершов, И. А. |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Стукач, Олег Владимирович |
| Keywords: | эталонные модели; факторный анализ; кластерный анализ; полупроводниковая продукция; качество |
| Issue Date: | 2016 |
| Publisher: | Изд-во ТПУ |
| Citation: | Воскобойникова О. Б. Разработка эталонной модели качества полупроводникового производства на основе факторного и кластерного анализа / О. Б. Воскобойникова, И. А. Ершов ; науч. рук. О. В. Стукач // Молодежь и современные информационные технологии : сборник трудов XIV Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 7-11 ноября 2016 г. : в 2 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2016. — Т. 1. — [С. 179-180]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/36989 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2016-C04_V1_p179-180.pdf | 433,9 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.