Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/36989| Название: | Разработка эталонной модели качества полупроводникового производства на основе факторного и кластерного анализа |
| Авторы: | Воскобойникова, Ольга Борисовна Ершов, И. А. |
| Научный руководитель: | Стукач, Олег Владимирович |
| Ключевые слова: | эталонные модели; факторный анализ; кластерный анализ; полупроводниковая продукция; качество |
| Дата публикации: | 2016 |
| Издатель: | Изд-во ТПУ |
| Библиографическое описание: | Воскобойникова О. Б. Разработка эталонной модели качества полупроводникового производства на основе факторного и кластерного анализа / О. Б. Воскобойникова, И. А. Ершов ; науч. рук. О. В. Стукач // Молодежь и современные информационные технологии : сборник трудов XIV Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 7-11 ноября 2016 г. : в 2 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2016. — Т. 1. — [С. 179-180]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/36989 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2016-C04_V1_p179-180.pdf | 433,9 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.