Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/38507
Название: X-ray Tomographic System Behavior Prediction Based on a Mathematical Model
Авторы: Baus, S. S.
Redko, Lyudmila Anatolevna
Yanushevskaya, Marina Nikolaevna
Ключевые слова: рентгеновские системы; математические модели; рентгеновские излучения; оптические системы; рентгеновские томографы; математическая статистика; регрессионные модели
Дата публикации: 2017
Издатель: IOP Publishing
Библиографическое описание: Baus S. S. X-ray Tomographic System Behavior Prediction Based on a Mathematical Model / S. S. Baus, L. A. Redko, M. N. Yanushevskaya // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2017. — Vol. 189 : Modern Technologies for Non-Destructive Testing : 5th International Conference, 3–8 October 2016, Tomsk, Russian Federation : [proceedings]. — [012016, 6 p.].
Аннотация: There appear certain challenges in defining the dependence of the X-ray radiation intensity change in passing through the material (as fixed by the detector) conditioned by various parameters of an X-ray optical system while designing new modifications of X-ray tomographs. At present, this problem is experimentally solved by selection of voltage corresponding parameter values on an X-ray tube with thickness and type of the studied material considered. To reduce the design time and complexity, a mathematical model of parameter behavior is required to characterize the X-ray optical system in the major working range of values. The present paper investigates the X-ray optical system behavior using methods of mathematical statistics. A regression model has been obtained which matches the change of the X-ray intensity value to the intensity in the X-ray tube. The research has defined the further study direction of X -ray optical system parameters.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/38507
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1757-899X-189-1-012016.pdf611,46 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.