Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/39814
Title: Разработка и анализ двумерных решеточных структур для получения рентгеновских изображений из одного снимка
Authors: Захарова, Маргарита Анатольевна
metadata.dc.contributor.advisor: Крючков, Юрий Юрьевич
Keywords: рентегновская визуализация; рентгеновское изображение из одного снимка; рентгеновские решетки; ультрафиолетовая литография; гальванопластика; микроструктурирование; X-ray imaging; Single-shot imaging; X-ray gratings; UV LIGA; micropatterning
Issue Date: 2017
Citation: Захарова М. А. Разработка и анализ двумерных решеточных структур для получения рентгеновских изображений из одного снимка : магистерская диссертация / М. А. Захарова ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Физико-технический институт (ФТИ), Кафедра общей физики (ОФ) ; науч. рук. Ю. Ю. Крючков. — Томск, 2017.
Abstract: Недавно разработанные технологии рентгеновской визуализации на основе дифракционных решеток вызвали большой интерес благодаря уникальной информации о внутренней структуре объектов, которая может быть получена в радиографической установке. Качество изображений, получаемых с помощью этого метода, определяется качеством используемого оптического компонента. В результате исследования были разработаны высококачесвтенные двумерные рентгеновские решетки, а также алгоритм оценки их качества и эффективности. Разработанные решетки обладают размером 1 см х 1 см, периодом 50, 25, 10 мкм и толщиной от 7 до 32 мкм. Данные решетки готовы к использованию в установках с энергией рентгеновского излучения до 28 кэВ.
Recently developed grating-based single-shot X-ray imaging techniques have attracted a lot of interest due to unique information they provide on the inner structure of the objects within robust radiographic setup. The quality of the images for these techniques depends on the optical component in use, thus intended high-quality X-ray gratings are required.As a result of the research, high-quality two-dimensional X-ray gratings were developed, as well as an algorithm for evaluating their quality and efficiency. The gratings developed have a size of 1 cm x 1 cm, periods of 50, 25, 10 ?m and thicknesses from 7 to 32 ?m. These gratings are ready for use in installations with X-ray energies up to 28 keV.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/39814
Appears in Collections:Магистерские диссертации

Files in This Item:
File SizeFormat 
TPU395895.pdf5,05 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.