Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/46564| Title: | Оценка качестка IGBT-модулей |
| Authors: | Апалишин, В. С. Афанасьев, Н. А. |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Шилин, Александр Анатольевич |
| Keywords: | оценка качества; IGBT-транзисторы; биполярные транзисторы; полевые транзисторы; полупроводники; модули; полупроводниковые приборы |
| Issue Date: | 2018 |
| Citation: | Апалишин В. С. Оценка качестка IGBT-модулей / В. С. Апалишин, Н. А. Афанасьев ; науч. рук. А. А. Шилин // Молодежь и современные информационные технологии : сборник трудов XV Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, 04-07 декабря 2017 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2018. — [С. 136-137]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/46564 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2017-C04_p136-137.pdf | 289,65 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.