Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/50735| Название: | Исследование профиля концентрации атомов металлов в поверхностном слое полилактида после ионной имплантации |
| Другие названия: | Concentration profile of metal atoms in polylactic acid after ion implantation |
| Авторы: | Зуза, Д. А. Коростелев, В. О. Васенина, И. В. |
| Научный руководитель: | Курзина, И. А. |
| Ключевые слова: | концентрация; атомы; металлы; поверхностные слои; полилактиды; ионная имплантация; полимеры |
| Дата публикации: | 2018 |
| Издатель: | Издательский Дом Томского государственного университета |
| Библиографическое описание: | Зуза Д. А. Исследование профиля концентрации атомов металлов в поверхностном слое полилактида после ионной имплантации / Д. А. Зуза, В. О. Коростелев, И. В. Васенина ; науч. рук. И. А. Курзина // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 24-27 апреля 2018 г. : в 7 т. — Томск : Издательский Дом Томского государственного университета, 2018. — Т. 2 : Химия. — [С. 123-125]. |
| Аннотация: | In the present work the effect of zinc, magnesium and silver ion implantation with exposure doses of 1·10 15 and 1·1016 ion/cm{2}, accelerating voltage of 20 kV and ion energy of 20, 30, 40 keV, respectively on polylactic acid (PL) films we investigated. The study of the state of the modified layer was carried out using the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and TRIM simulation code including dynamic composition changes (TRIDYN) methods. The influence of ion beams on the surface resistivity and the wetting contact angle was studied. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/50735 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2018-C21_V2_p123-125.pdf | 507,95 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.