Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57176
Title: MSA-анализ определения толщины диэлектрического покрытия на стальном основании
Authors: Юрьев, В. Ю.
Keywords: определение; толщина; стальные поверхности; толщиномеры; измерительные процессы; стальные трубы
Issue Date: 2019
Citation: Юрьев В. Ю. MSA-анализ определения толщины диэлектрического покрытия на стальном основании / В. Ю. Юрьев // Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее : сборник научных трудов VIII Международной конференции школьников, студентов, аспирантов, молодых ученых, 7 -12 октября 2019 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2019. — [С. 93-96].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57176
Appears in Collections:Материалы конференций

Files in This Item:
File SizeFormat 
conference_tpu-2019-C47_p93-96.pdf714,19 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.