Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57262
Название: Influence of beam current on microstructure of electron beam melted Ti-6Al-4V alloy
Авторы: Laptev, Roman Sergeevich
Pushilina, Natalia Sergeevna
Kashkarov, Egor Borisovich
Syrtanov, Maksim Sergeevich
Stepanova, Ekaterina Nikolaevna
Koptyug, Andrey Valentinovich
Lider, Andrey Markovich
Ключевые слова: titanium alloy; additive technology; electron beam melting; positron spectroscopy; defects; transmission electron microscopy; титановые сплавы; аддитивные технологии; позитронная спектроскопия; дефекты; электронная микроскопия
Дата публикации: 2019
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Influence of beam current on microstructure of electron beam melted Ti-6Al-4V alloy / R. S. Laptev [et al.] // Progress in Natural Science: Materials International. — 2019. — Vol. 29, iss. 4. — [P. 440-446].
Аннотация: The defect microstructure of the samples manufactured from Ti-6Al-4V powder was studied using electron beam melting (EBM) in the beam current range of 17 - 13 mA. The hybrid digital complex combined positron lifetime spectroscopy and coincidence Doppler broadening spectroscopy was used to characterize the defect structure of the materials. The microstructure and defects were also analyzed by transmission electron microscopy. It has been established that the main type of the defects in the EBM manufactured samples is dislocations. According to the conducted measurements and calculations, the dislocation density in the EBM manufactured samples exceeds by two orders the similar value for the cast Ti-6Al-4Valloy. Formation of Ti-Ti-Al nanoscale clusters has been found in the EBM manufactured samples.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57262
Располагается в коллекциях:Репринты научных публикаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
reprint-nw-31568.pdf2,15 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.