Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57610| Title: | Совершенствование методики контрольных испытаний комплектующих электрорадиоизделий |
| Other Titles: | Development of the optimal methodology of control tests components of electrical radio products |
| Authors: | Бадрутдинова, Дарья Рашидовна Вавилова, Галина Васильевна Сергеев, Виктор Яковлевич |
| Keywords: | электрорадиоизделия; отказы; дефекты; отбраковка; оптоэлектронные трансформаторы; контрольные испытания; комплектующие изделия; electrical equipment; failure mechanism; defect; screening tests; optoelectronic transistors |
| Issue Date: | 2019 |
| Citation: | Бадрутдинова Д. Р. Совершенствование методики контрольных испытаний комплектующих электрорадиоизделий / Д. Р. Бадрутдинова, Г. В. Вавилова, В. Я. Сергеев // Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности : сборник научных трудов VIII Международной конференции школьников, студентов, аспирантов, молодых ученых "Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее", 7 -12 октября 2019 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2019. — [С. 35-39]. |
| Abstract: | Статья посвящена разработке оптимальной методики отбраковочных испытаний оптоэлектронных транзисторов, которая позволит максимально снизить риск их отказа в приборе на финальных этапах изготовления прибора. The article is devoted to the development of an optimal method for screening tests of optoelectronic transistors, which will minimize the risk of their failure in the device at the final stages of manufacturing the device. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57610 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2019-C47_V2_p35-39.pdf | 1,01 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.