Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/59788
Название: Структурная стабильность многослойных Zr/Nb систем при облучении ионами Не+ в широком диапазоне доз
Авторы: Кроткевич, Дмитрий
Научный руководитель: Кашкаров, Егор Борисович
Ключевые слова: многослойные системы Zr/Nb; структурная стабильность; ионное облучение; радиационная стойкость; рентгеноструктурный анализ; multilayer Zr/Nb systems; structural stability; ion irradiation; radiation resistance; x-ray diffraction analysis
Дата публикации: 2020
Библиографическое описание: Кроткевич Д. Структурная стабильность многослойных Zr/Nb систем при облучении ионами Не+ в широком диапазоне доз : магистерская диссертация / Д. Кроткевич ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ), Отделение экспериментальной физики (ОЭФ) ; науч. рук. Е. Б. Кашкаров. — Томск, 2020.
Аннотация: В работе исследована структурная стабильность многослойных покрытий Zr/Nb с различной толщиной индивидуального слоя при облучении ионами He?. Многослойные Zr/Nb покрытия с толщиной индивидуального слоя 10 - 100 нм были подвергнуты облучению ионами гелия с флюенсом 1•10?? - 1•10?? ион/см? с энергией 25 кэВ. По результатам проведенного рентгеноструктурного анализа и измерения электрического сопротивления было выявлено, что при больших дозах облучения покрытия испытывают реориентацию с изменением микро- и макронапряжений. В работе была была определена оптимальная толщина индивидуального слоя, обеспечивающая высокую структурную стабильность системы в целом, которая составила 25 нм.
The structural stability of Zr/Nb multilayer coatings with different individual layer thicknesses under irradiation with He? ions was studied. Multilayer Zr/Nb coatings with an individual layer thickness of 10–100 nm were irradiated with 25 keV helium ions with a fluence of 1 • 10?? - 1 • 10?? ion / cm? . According to the results of X-ray diffraction analysis and measurement of electrical resistance, it was found that at high doses of irradiation, coatings undergo reorientation with a change in micro- and macrostresses. In the work, the optimal thickness of the individual layer was determined, which ensures high structural stability of the system as a whole, which was 25 nm.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/59788
Располагается в коллекциях:Магистерские диссертации

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
TPU903320.pdf4,04 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.