Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/62550
Название: Морфология разрушений, образующихся в полиметилметакрилате при облучении сильноточным электронным пучком в режиме филаментации и самофокусировки
Другие названия: The morphology of damage in polymethyl methacrylate when irradiated with a high-current electron beam in the filamentated and self-focused mode
Авторы: Нгуен, В. В.
Олешко, Владимир Иванович
Научный руководитель: Олешко, Владимир Иванович
Ключевые слова: морфология; разрушения; полиметилметакрилат; облучение; электронные пучки; сильноточные пучки; самофокусировка; конденсированные среды
Дата публикации: 2020
Издатель: Изд-во ТУСУР
Библиографическое описание: Нгуен В. В. Морфология разрушений, образующихся в полиметилметакрилате при облучении сильноточным электронным пучком в режиме филаментации и самофокусировки / В. В. Нгуен, В. И. Олешко ; науч. рук. В. И. Олешко // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XVII Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2020 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТУСУР, 2020. — Т. 1 : Физика. — [С. 143-145].
Аннотация: The morphology of the damage formed in PMMA upon irradiation with a high-current electron beam (Eave. ~ 250 keV, τ1/2.=(2-12) ns) in the filamented and self-focused mode was studied. In the localization zones of the filament in the near-surface region of the samples at a depth of 40 - 80 [mu]m, micro-fractures of a circular and more complex shape were found, the diameters of which vary from 1 to 50 [mu]m. The destruction is interconnected by electric breakdown channels. It is assumed that this type of destruction is formed as a result of irradiation of the polymer with high density electron microbeams, which are formed in the vacuum diode of a pulsed high-current electron accelerator.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/62550
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2020-C21_V1_p143-145.pdf310,16 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.