Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67089
Title: | Диагностика релятивистских электронных пучков по угловому распределению когерентного дифракционного излучения |
Authors: | Виничук, Сергей Владимирович |
metadata.dc.contributor.advisor: | Черепенников, Юрий Михайлович |
Keywords: | когерентное дифракционное излучение; диагностика электронных пучков; моделирование; микротрон ТПУ; Ускоритель LUCX; coherent diffraction radiation; electron beam diagnostics; wolfram Mathematica; microtron TPU; accelerator LUCX |
Issue Date: | 2021 |
Citation: | Виничук С. В. Диагностика релятивистских электронных пучков по угловому распределению когерентного дифракционного излучения : бакалаврская работа / С. В. Виничук ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ), Отделение ядерно-топливного цикла (ОЯТЦ) ; науч. рук. Ю. М. Черепенников. — Томск, 2021. |
Abstract: | Современные лазерно-плазменные ускорители позволяют получать и ускорять электронные сгустки субпикосекундной длительности, для которых отсутствуют средства диагностики требуемой точности.
Распространенный метод измерения длительности электронных сгустков основан на использовании стрик – камеры, точность которого не превышает 1 мм. Использование метода, основанного на спектрально-угловых измерения когерентного переходного излучения, позволяет улучшить точность. Использование КДИ для этой цели обеспечивает неинвазивный характер диагностики.
В ходе выполнения ВКР были исследованы возможности использования когерентного дифракционного излучения (КДИ) от щелевой мишени со смещением для измерения длины электронного сгустка. Modern laser-plasma accelerators make it possible to obtain and accelerate electron bunches of subpicosecond duration, for which there are no diagnostic tools of the required accuracy. A common method for measuring the duration of electron bunches is based on the use of a streak camera, the accuracy of which does not exceed 1 mm. The use of a method based on spectral-angular measurements of coherent transition radiation makes it possible to improve the accuracy. The use of CDR for this purpose provides a non-invasive diagnostic character. In the course of graduation project , the possibilities of using coherent diffraction radiation (CDR) from an offset slit target to measure the length of an electron bunch were investigated. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67089 |
Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
TPU1167489.pdf | 1,72 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.