Статистика

Посещений всего

Посещения
Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques 423

Посещений по месяцам

января 2024 февраля 2024 марта 2024 апреля 2024 мая 2024 июня 2024 июля 2024
Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques 0 0 4 5 9 8 5

Загрузок

Посещения
conference_tpu-2015-C21-343.pdf 74

Посещений по странам

Посещения
Россия 239
Соединенные Штаты 50
Китай 21
Украина 9
Германия 8
Австралия 3
Армения 1
Аргентина 1
Грузия 1
Монголия 1

Посещений по городам

Посещения
Moscow 227
Mountain View 12
Nanjing 8
Fairfield 5
Menlo Park 5
Ashburn 4
Cambridge 4
San Diego 3
Tomsk 3
Wilmington 3