Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23326
Название: | Анализ показателей надежности двухпозиционного диодного модуля МДХ-660-18-A2 |
Авторы: | Колесов, И. В. Кравченко, Евгений Владимирович |
Ключевые слова: | надежность; диодные модули; полупроводниковые модули; полупроводниковые приборы |
Дата публикации: | 2014 |
Библиографическое описание: | Колесов И. В. Анализ показателей надежности двухпозиционного диодного модуля МДХ-660-18-A2 / И. В. Колесов, Е. В. Кравченко // Теплофизические основы энергетических технологий : сборник статей V Всероссийской научной конференции с международным участием, 15-17 октября 2014 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — [С. 205-209]. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23326 |
Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
conference_tpu-2014-C02-044.pdf | 598,16 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.