Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45347
Название: К вопросу автоматизированных испытаний силовых коммутационных GaN транзисторов
Другие названия: On question of automated tests of GaN power transistors
Авторы: Томашевич, А. А.
Лощилов, А. Г.
Ерофеев, Е. В.
Ключевые слова: электронные ресурсы; научно-технологическое развитие; нанотехнологии; силовые транзисторы; исследовательские испытания; GAN
Дата публикации: 2017
Издатель: Изд-во ТПУ
Библиографическое описание: Томашевич А. А. К вопросу автоматизированных испытаний силовых коммутационных GaN транзисторов / А. А. Томашевич, А. Г. Лощилов, Е. В. Ерофеев // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — Т. 7 : IT-технологии и электроника. — [С. 111-113].
Аннотация: This paper discusses automation solution for testing of GaN based power transistors. This solution includes switching circuit that makes it possible to measure representative samples in amounts of ten and more in automatic mode. It enables to reduce efforts and increase measurement repeatability.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45347
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2017-C21_V7_p111-113.pdf261,07 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.