К вопросу автоматизированных испытаний силовых коммутационных GaN транзисторов

Томашевич, А. А.; Лощилов, А. Г.; Ерофеев, Е. В.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45347

Title:	К вопросу автоматизированных испытаний силовых коммутационных GaN транзисторов
Other Titles:	On question of automated tests of GaN power transistors
Authors:	Томашевич, А. А. Лощилов, А. Г. Ерофеев, Е. В.
Keywords:	электронные ресурсы; научно-технологическое развитие; нанотехнологии; силовые транзисторы; исследовательские испытания; GAN
Issue Date:	2017
Publisher:	Изд-во ТПУ
Citation:	Томашевич А. А. К вопросу автоматизированных испытаний силовых коммутационных GaN транзисторов / А. А. Томашевич, А. Г. Лощилов, Е. В. Ерофеев // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 25-28 апреля 2017 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2017. — Т. 7 : IT-технологии и электроника. — [С. 111-113].
Abstract:	This paper discusses automation solution for testing of GaN based power transistors. This solution includes switching circuit that makes it possible to measure representative samples in amounts of ten and more in automatic mode. It enables to reduce efforts and increase measurement repeatability.
URI:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45347
Appears in Collections:	Материалы конференций

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
conference_tpu-2017-C21_V7_p111-113.pdf		261,07 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar