Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/46564| Название: | Оценка качестка IGBT-модулей |
| Авторы: | Апалишин, В. С. Афанасьев, Н. А. |
| Научный руководитель: | Шилин, Александр Анатольевич |
| Ключевые слова: | оценка качества; IGBT-транзисторы; биполярные транзисторы; полевые транзисторы; полупроводники; модули; полупроводниковые приборы |
| Дата публикации: | 2018 |
| Библиографическое описание: | Апалишин В. С. Оценка качестка IGBT-модулей / В. С. Апалишин, Н. А. Афанасьев ; науч. рук. А. А. Шилин // Молодежь и современные информационные технологии : сборник трудов XV Международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, 04-07 декабря 2017 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2018. — [С. 136-137]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/46564 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2017-C04_p136-137.pdf | 289,65 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.