1. Электронный архив ТПУ
  2. Наука
  3. Материалы конференций
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/57610
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorБадрутдинова, Дарья Рашидовнаru
dc.contributor.authorВавилова, Галина Васильевнаru
dc.contributor.authorСергеев, Виктор Яковлевичru
dc.date.accessioned2020-01-24T02:38:44Z-
dc.date.available2020-01-24T02:38:44Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationБадрутдинова Д. Р. Совершенствование методики контрольных испытаний комплектующих электрорадиоизделий / Д. Р. Бадрутдинова, Г. В. Вавилова, В. Я. Сергеев // Информационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности : сборник научных трудов VIII Международной конференции школьников, студентов, аспирантов, молодых ученых "Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее", 7 -12 октября 2019 г., г. Томск. — Томск : Изд-во ТПУ, 2019. — [С. 35-39].ru
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/57610-
dc.description.abstractСтатья посвящена разработке оптимальной методики отбраковочных испытаний оптоэлектронных транзисторов, которая позволит максимально снизить риск их отказа в приборе на финальных этапах изготовления прибора. The article is devoted to the development of an optimal method for screening tests of optoelectronic transistors, which will minimize the risk of their failure in the device at the final stages of manufacturing the device.ru
dc.language.isoruen
dc.relation.ispartofИнформационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности : сборник научных трудов VIII Международной конференции школьников, студентов, аспирантов, молодых ученых "Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее", 7 -12 октября 2019 г., г. Томск. — Томск, 2019.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen
dc.subjectэлектрорадиоизделияru
dc.subjectотказыru
dc.subjectдефектыru
dc.subjectотбраковкаru
dc.subjectоптоэлектронные трансформаторыru
dc.subjectконтрольные испытанияru
dc.subjectкомплектующие изделияru
dc.subjectelectrical equipmentru
dc.subjectfailure mechanismru
dc.subjectdefectru
dc.subjectscreening testsru
dc.subjectoptoelectronic transistorsru
dc.titleСовершенствование методики контрольных испытаний комплектующих электрорадиоизделийru
dc.title.alternativeDevelopment of the optimal methodology of control tests components of electrical radio productsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperen
dcterms.audienceResearchesen
local.description.firstpage35-
local.description.lastpage39-
local.filepathconference_tpu-2019-C47_V2_p35-39.pdf-
local.identifier.bibrecRU\TPU\conf\32270-
local.identifier.perskeyRU\TPU\pers\30684-
local.localtypeДокладru
local.conference.nameИнформационные технологии (IT) в контроле, управлении качеством и безопасности-
local.conference.date2019-
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
conference_tpu-2019-C47_V2_p35-39.pdf1,01 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика   Google Scholar


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.