Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67365
Название: | Метод атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и морфологии поверхности оксидных наноматериалов |
Авторы: | Пань, Мэнхуа |
Научный руководитель: | Воронова, Гульнара Альфридовна |
Ключевые слова: | атомно-силовая микроскопия; анодный оксид алюминия; обработка АСМ-изображений; артефакт; программное обеспечение Image Analysis; atomic force microscopy; anodic alumina; AFM image processing; artifact; Image Analysis software |
Дата публикации: | 2021 |
Библиографическое описание: | Пань М. Метод атомно-силовой микроскопии для исследования структуры и морфологии поверхности оксидных наноматериалов : бакалаврская работа / М. Пань ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа новых производственных технологий (ИШНПТ), Отделение материаловедения (ОМ) ; науч. рук. Г. А. Воронова. — Томск, 2021. |
Аннотация: | В процессе исследования проводились обзор литературы, посвященный современному состоянию применения атомно-силовой микроскопии для исследования анодного оксида алюминия; разработка методики обработки АСМ-изображений; исследование поверхности анодного оксида алюминия.
В результате исследования установлено, что использование атомно-силовой микроскопии имеет актуальную повестку; использование различных методик обработки АСМ-изображений не всегда позволяют избежать дефектов и инородных объектов при сканировании образцов.
Основные конструктивные, технологические и технико-эксплуатационные характеристики: разработанная методика обработки АСМ-изображений для исключения дефектов и инородных объектов. In the course of the study, a literature review was carried out on the current state of the use of atomic force microscopy for the study of anodic aluminum oxide; development of a method for processing AFM images; investigation of the surface of anodic aluminum oxide. As a result of the study, it was found that the use of atomic force microscopy has an urgent agenda; the use of various methods for processing AFM images does not always allow avoiding defects and foreign objects when scanning samples. Main design, technological and technical and operational characteristics: developed method for processing AFM images to exclude defects and foreign objects. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67365 |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
TPU1170481.pdf | 1,64 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.