Применение атомно-силовой микроскопии для изучения пористых анодных мембран из оксида алюминия

Abstract

Атомно-силовая микроскопия – это уникальный метод, позволяющий увидеть и измерить структуру поверхности образца быстро, с высоким разрешением и точностью. Атомно-силовой микроскоп (АСМ), позволяет получить изображение вплоть до нанометрового масштаба. АСМ также имеет различные режимы, которые позволяют изучать свойства поверхности образцов. К таким образцам можно отнести мембраны из анодного оксида алюминия (АОА), для анализа поверхности, которых АСМ является недорогим, быстрым и надежным методом. Важной задачей остается обработка и анализ полученных АСМ изображений, зачастую сделать хорошее изображение не получается, так как влияют множество факторов, которые снижают качество. К таким факторам относятся: состояние зонда микроскопа, время сканирования, условия сканирования, различного рода

Atomic force microscopy is a unique technique that allows the surface structure of a sample to be seen and measured quickly, with high resolution and accuracy. An atomic force microscope (AFM), allows imaging down to the nanometre scale. The AFM also has different modes that allow the surface properties of samples to be studied. Such samples include membranes made of anodic aluminium oxide (AOA) for which AFM is an inexpensive, fast and reliable method for surface analysis. An important task remains the processing and analysis of the AFM images; often it is not possible to make a good image because there are many factors that reduce the quality. These factors include the condition of the microscope probe, scanning time, scanning conditions, and a variety of other factors.