Анализ и обработка АСМ-изображений анодного оксида алюминия

Гришанков, А. А.; Пань Мэнхуа; Цзи Синьюй

Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/68350

Title:	Анализ и обработка АСМ-изображений анодного оксида алюминия
Other Titles:	Analysis and processing of AFM images of anodic aluminum oxide
Authors:	Гришанков, А. А. Пань Мэнхуа Цзи Синьюй
metadata.dc.contributor.advisor:	Воронова, Гульнара Альфридовна
Keywords:	анализ; обработка; изображения; оксид алюминия; атомно-силовая микроскопия; поверхности
Issue Date:	2021
Publisher:	Томский политехнический университет
Citation:	Гришанков, А. А. Анализ и обработка АСМ-изображений анодного оксида алюминия / А. А. Гришанков, Пань Мэнхуа, Цзи Синьюй ; науч. рук. Г. А. Воронова // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XVIII Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 27-30 апреля 2021 г. : в 7 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2021. — Т. 1 : Физика. — [С. 97-99].
Abstract:	Atomic force microscopy is a unique technique that allows you to see and measure the surface structure of a sample quickly, with high resolution and accuracy. AFM greatly simplifies the study of the anodic oxide aluminium surface. In this study, we showed how the analysis and processing of images obtained on an atomic force microscope takes place. Methods for obtaining high-quality AFM images using various software were shown.
URI:	http://earchive.tpu.ru/handle/11683/68350
Appears in Collections:	Материалы конференций

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
conference_tpu-2021-C21_V1_p97-99.pdf		1,7 MB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar