Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13026| Title: | Обратные токи изолированных переходов как показатель стабильности маломощных транзисторов |
| Authors: | Добрускин, В. А. |
| Issue Date: | 1973 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Добрускин В. А. Обратные токи изолированных переходов как показатель стабильности маломощных транзисторов / В. А. Добрускин // Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]. — 1973. — Т. 262 : Автоматизация промышленных установок. — [С. 185-187]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13026 |
| Appears in Collections: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-1973-v262-49_bw.pdf | Black-and-white version of the preview | 136,52 kB | Adobe PDF | View/Open |
| bulletin_tpu-1973-v262-49_full.pdf | Color version | 3,36 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.