Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorЛавринович, Валерий Александровичru
dc.contributor.authorРахимов, Рафаэль Саматовичru
dc.date.accessioned2016-06-23T09:48:50Z-
dc.date.available2016-06-23T09:48:50Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationРахимов Р. С. Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов : дипломный проект / Р. С. Рахимов ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Энергетический институт (ЭНИН), Кафедра электроэнергетических систем (ЭЭС) ; науч. рук. В. А. Лавринович. — Томск, 2016.-
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973-
dc.description.abstractОбъектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов. Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрениеru
dc.description.abstractОбъектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов. Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрениеen
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoruen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess-
dc.subjectдиэлектрическая пленкаru
dc.subjectкоронный разрядru
dc.subjectлатентный дефектru
dc.subjectобратная коронаru
dc.subjectискровой пробойru
dc.subjectдиэлектрическая пленкаen
dc.subjectкоронный разрядen
dc.subjectлатентный дефектen
dc.subjectобратная коронаen
dc.subjectискровой пробойen
dc.titleОтыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторовru
dc.typeStudents work-
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Энергетический институт (ЭНИН)::Кафедра электроэнергетических систем (ЭЭС)-
local.institut6266-
local.localtypeСтуденческая работа-
dc.subject.oksvnk140400-
local.thesis.levelБакалаврru
local.thesis.disciplineЭлектроэнергетика и электротехника-
local.local-vkr-id20123-
local.vkr-id9200-
local.stud-group5А2В-
local.lichnost-id130449-
local.thesis.level-id1-
local.tutor-lichnost-id58810-
dc.subject.udc621.319.4:678.026:620.179.1-
Располагается в коллекциях:Выпускные квалификационные работы (ВКР)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
TPU138282.pdf1,05 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.