Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973
Title: | Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов |
Authors: | Рахимов, Рафаэль Саматович |
metadata.dc.contributor.advisor: | Лавринович, Валерий Александрович |
Keywords: | диэлектрическая пленка; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; искровой пробой; диэлектрическая пленка; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; искровой пробой |
Issue Date: | 2016 |
Citation: | Рахимов Р. С. Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов : дипломный проект / Р. С. Рахимов ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Энергетический институт (ЭНИН), Кафедра электроэнергетических систем (ЭЭС) ; науч. рук. В. А. Лавринович. — Томск, 2016. |
Abstract: | Объектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов.
Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда.
В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом.
Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда.
Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА.
Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий.
Внедрение Объектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов. Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрение |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973 |
Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
TPU138282.pdf | 1,05 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.