Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973
Title: Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов
Authors: Рахимов, Рафаэль Саматович
metadata.dc.contributor.advisor: Лавринович, Валерий Александрович
Keywords: диэлектрическая пленка; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; искровой пробой; диэлектрическая пленка; коронный разряд; латентный дефект; обратная корона; искровой пробой
Issue Date: 2016
Citation: Рахимов Р. С. Отыскание латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов : дипломный проект / Р. С. Рахимов ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Энергетический институт (ЭНИН), Кафедра электроэнергетических систем (ЭЭС) ; науч. рук. В. А. Лавринович. — Томск, 2016.
Abstract: Объектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов. Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрение
Объектом исследования является метод поиска латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов. Цель работы – проведение исследований на предмет возможности выявления латентных дефектов диэлектрических пленок для производства конденсаторов методом коронного разряда. В процессе работы была создана экспериментальная установка. С помощью установки были проведены экспериментальные исследования метода поиска латентных дефектов коронным разрядом. Результатом проделанной НИР является доказательство возможности поиска сквозных и латентных дефектов методом коронного разряда. Сконструирована установка, которая работает в диапазоне напряжений 0…30 кВ, тока 0…200 мкА. Данная установка имеет перспективы внедрения в испытательных лабораториях производственных предприятий. Внедрение
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/26973
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы (ВКР)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
TPU138282.pdf1,05 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.