Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104| Title: | Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков |
| Authors: | Крючков, Юрий Юрьевич Малютин, В. М. Пичугин, Владимир Федорович Сохорева, Валентина Викторовна Франгульян, Тамара Семёновна |
| Keywords: | диэлектрики; ионное облучение; ядерный микроанализ; обратное рассеяние; спектроскопические методы; разработка; применение |
| Issue Date: | 2000 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Разработка и применение методов спектроскопии обратного рассеяния быстрых ионов для анализа состава и структуры ионно-облученных слоев диэлектриков / Ю. Ю. Крючков [и др.] // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2000. — Т. 303, вып. 3. — [С. 12-21]. |
| Abstract: | В настоящей работе приводится описание экспериментальной установки ТОКАМА-2 для проведения ядерного микроанализа, основанного на резерфордовском обратном рассеянии и ядерных реакциях, с использованием эффекта каналирования. В качестве примера использования данной установки приведены результаты исследования состава и структуры монокристаллов MgO. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/3104 |
| Appears in Collections: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-2000-303-3-02.pdf | 5,5 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.