Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67089
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Черепенников, Юрий Михайлович | ru |
dc.contributor.author | Виничук, Сергей Владимирович | ru |
dc.date.accessioned | 2021-06-16T09:17:08Z | - |
dc.date.available | 2021-06-16T09:17:08Z | - |
dc.date.issued | 2021 | - |
dc.identifier.citation | Виничук С. В. Диагностика релятивистских электронных пучков по угловому распределению когерентного дифракционного излучения : бакалаврская работа / С. В. Виничук ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ), Отделение ядерно-топливного цикла (ОЯТЦ) ; науч. рук. Ю. М. Черепенников. — Томск, 2021. | - |
dc.identifier.uri | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67089 | - |
dc.description.abstract | Современные лазерно-плазменные ускорители позволяют получать и ускорять электронные сгустки субпикосекундной длительности, для которых отсутствуют средства диагностики требуемой точности. Распространенный метод измерения длительности электронных сгустков основан на использовании стрик – камеры, точность которого не превышает 1 мм. Использование метода, основанного на спектрально-угловых измерения когерентного переходного излучения, позволяет улучшить точность. Использование КДИ для этой цели обеспечивает неинвазивный характер диагностики. В ходе выполнения ВКР были исследованы возможности использования когерентного дифракционного излучения (КДИ) от щелевой мишени со смещением для измерения длины электронного сгустка. | ru |
dc.description.abstract | Modern laser-plasma accelerators make it possible to obtain and accelerate electron bunches of subpicosecond duration, for which there are no diagnostic tools of the required accuracy. A common method for measuring the duration of electron bunches is based on the use of a streak camera, the accuracy of which does not exceed 1 mm. The use of a method based on spectral-angular measurements of coherent transition radiation makes it possible to improve the accuracy. The use of CDR for this purpose provides a non-invasive diagnostic character. In the course of graduation project , the possibilities of using coherent diffraction radiation (CDR) from an offset slit target to measure the length of an electron bunch were investigated. | en |
dc.format.mimetype | application/pdf | - |
dc.language.iso | ru | en |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | - |
dc.subject | когерентное дифракционное излучение | ru |
dc.subject | диагностика электронных пучков | ru |
dc.subject | моделирование | ru |
dc.subject | микротрон ТПУ | ru |
dc.subject | Ускоритель LUCX | ru |
dc.subject | coherent diffraction radiation | en |
dc.subject | electron beam diagnostics | en |
dc.subject | wolfram Mathematica | en |
dc.subject | microtron TPU | en |
dc.subject | accelerator LUCX | en |
dc.title | Диагностика релятивистских электронных пучков по угловому распределению когерентного дифракционного излучения | ru |
dc.type | Students work | - |
local.department | Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ)::Отделение ядерно-топливного цикла (ОЯТЦ) | - |
local.institut | 7863 | - |
local.localtype | Студенческая работа | - |
dc.subject.oksvnk | 14.03.02 | - |
local.thesis.level | Бакалавр | ru |
local.thesis.discipline | Ядерные физика и технологии | - |
local.local-vkr-id | 977161 | - |
local.vkr-id | 47648 | - |
local.stud-group | 0А7Б | - |
local.lichnost-id | 161108 | - |
local.thesis.level-id | 1 | - |
local.tutor-lichnost-id | 125955 | - |
dc.subject.udc | 621.384.665:539.121 | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
TPU1167489.pdf | 1,72 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.