Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/67089
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.advisorЧерепенников, Юрий Михайловичru
dc.contributor.authorВиничук, Сергей Владимировичru
dc.date.accessioned2021-06-16T09:17:08Z-
dc.date.available2021-06-16T09:17:08Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationВиничук С. В. Диагностика релятивистских электронных пучков по угловому распределению когерентного дифракционного излучения : бакалаврская работа / С. В. Виничук ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ), Отделение ядерно-топливного цикла (ОЯТЦ) ; науч. рук. Ю. М. Черепенников. — Томск, 2021.-
dc.identifier.urihttp://earchive.tpu.ru/handle/11683/67089-
dc.description.abstractСовременные лазерно-плазменные ускорители позволяют получать и ускорять электронные сгустки субпикосекундной длительности, для которых отсутствуют средства диагностики требуемой точности. Распространенный метод измерения длительности электронных сгустков основан на использовании стрик – камеры, точность которого не превышает 1 мм. Использование метода, основанного на спектрально-угловых измерения когерентного переходного излучения, позволяет улучшить точность. Использование КДИ для этой цели обеспечивает неинвазивный характер диагностики. В ходе выполнения ВКР были исследованы возможности использования когерентного дифракционного излучения (КДИ) от щелевой мишени со смещением для измерения длины электронного сгустка.ru
dc.description.abstractModern laser-plasma accelerators make it possible to obtain and accelerate electron bunches of subpicosecond duration, for which there are no diagnostic tools of the required accuracy. A common method for measuring the duration of electron bunches is based on the use of a streak camera, the accuracy of which does not exceed 1 mm. The use of a method based on spectral-angular measurements of coherent transition radiation makes it possible to improve the accuracy. The use of CDR for this purpose provides a non-invasive diagnostic character. In the course of graduation project , the possibilities of using coherent diffraction radiation (CDR) from an offset slit target to measure the length of an electron bunch were investigated.en
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoruen
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess-
dc.subjectкогерентное дифракционное излучениеru
dc.subjectдиагностика электронных пучковru
dc.subjectмоделированиеru
dc.subjectмикротрон ТПУru
dc.subjectУскоритель LUCXru
dc.subjectcoherent diffraction radiationen
dc.subjectelectron beam diagnosticsen
dc.subjectwolfram Mathematicaen
dc.subjectmicrotron TPUen
dc.subjectaccelerator LUCXen
dc.titleДиагностика релятивистских электронных пучков по угловому распределению когерентного дифракционного излученияru
dc.typeStudents work-
local.departmentНациональный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)::Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ)::Отделение ядерно-топливного цикла (ОЯТЦ)-
local.institut7863-
local.localtypeСтуденческая работа-
dc.subject.oksvnk14.03.02-
local.thesis.levelБакалаврru
local.thesis.disciplineЯдерные физика и технологии-
local.local-vkr-id977161-
local.vkr-id47648-
local.stud-group0А7Б-
local.lichnost-id161108-
local.thesis.level-id1-
local.tutor-lichnost-id125955-
dc.subject.udc621.384.665:539.121-
Располагается в коллекциях:Выпускные квалификационные работы (ВКР)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
TPU1167489.pdf1,72 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.