Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13971
Название: Электронно-лучевой контроль качества токопроводящего слоя резисторов
Авторы: Горбунов, Владимир Иванович
Свирякин, Д. И.
Филишов, Н. Я.
Колупаев, А. Н.
Дата публикации: 1976
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Электронно-лучевой контроль качества токопроводящего слоя резисторов / В. И. Горбунов [и др.] // Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]. — 1976. — Т. 296 : Неразрушающие методы контроля. — [С. 137-140].
Аннотация: Рассматривается возможность применения методов сканирующей растровой электронной интроскопии для контроля тонкопленочных покрытий и поверхностных слоев радиокомпонентов и радиосхем. Описана конструкция и принцип работы экспериментальной электронно-лучевой установки для проверки качества токопроводящих покрытий резисторов. Приведены фотографии изображений контролируемых резисторов, полученных с экрана видеоконтрольного устройства ПТУ-26.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/13971
Располагается в коллекциях:Известия ТПУ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
bulletin_tpu-1976-v296-30_bw.pdfBlack-and-white version of the preview347,45 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
bulletin_tpu-1976-v296-30_full.pdfColor version6,32 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.