Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15740
Title: Применение кругового электрического профилирования при определении коэффициента анизотропии флишевых толщ
Authors: Шепель, А. Н.
metadata.dc.contributor.advisor: Гуленко, В. И.
Keywords: электрическое профилирование; анизотропия; флишевые формации; геофизические методы; электроразведочные работы
Issue Date: 2015
Citation: Шепель А. Н. Применение кругового электрического профилирования при определении коэффициента анизотропии флишевых толщ / А. Н. Шепель ; науч. рук. В. И. Гуленко // Творчество юных - шаг в успешное будущее : материалы VIII Всероссийской научной студенческой конференции с элементами научной школы имени профессора М. К. Коровина, г. Томск, 23-27 ноября 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 128-130].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15740
Appears in Collections:Материалы конференций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
conference_tpu-2015-C66-v2-053.pdf626,08 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.