Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15740| Название: | Применение кругового электрического профилирования при определении коэффициента анизотропии флишевых толщ |
| Авторы: | Шепель, А. Н. |
| Научный руководитель: | Гуленко, В. И. |
| Ключевые слова: | электрическое профилирование; анизотропия; флишевые формации; геофизические методы; электроразведочные работы |
| Дата публикации: | 2015 |
| Библиографическое описание: | Шепель А. Н. Применение кругового электрического профилирования при определении коэффициента анизотропии флишевых толщ / А. Н. Шепель ; науч. рук. В. И. Гуленко // Творчество юных - шаг в успешное будущее : материалы VIII Всероссийской научной студенческой конференции с элементами научной школы имени профессора М. К. Коровина, г. Томск, 23-27 ноября 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 128-130]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15740 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2015-C66-v2-053.pdf | 626,08 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.