Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15961
Название: Особенности РОР-спектроскопии тонких пленок перовскитов
Авторы: Афанасьев, Михаил Сергеевич
Буров, Анатолий Владимирович
Егоров, Владимир Константинович
Лучников, Петр Александрович
Чучева, Галина Викторовна
Ключевые слова: физика; перовскиты; тонкие пленки; РОР-спектроскопия; особенности; ионопучковая диагностика; резерфордовское обратное рассеяние; сегнетоэлектрические пленки; оксид магния; барий; стронций; титан
Дата публикации: 2012
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Особенности РОР-спектроскопии тонких пленок перовскитов / М. С. Афанасьев [и др.] // Вестник науки Сибири. — 2012. — № 1 (2). — [С. 126-133].
Аннотация: Проведены исследования тонких перовскитных пленок барий-стронциевого титаната (Ba1-xSrxTiO3) на монокристаллических подложках типа Si [100], MgO [100] и NdGaO3 [100] методом резерфордовского обратного рассеяния (РОР) ионов гелия и рентгенофлуоресцентного анализа при полном внешнем отражении потока возбуждения. Рассмотрены особенности метода РОР-спектроскопии и его ожидаемое следствие при анализе тонких перовскитных пленок Ba1-xSrxTiO3 на различных типах монокристаллических подложек. Определена степень их элементной неоднородности по толщине и степень диффузионного загрязнения атомами подложек.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15961
ISSN: 2226-0064
Располагается в коллекциях:Вестник науки Сибири

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
184.pdf1 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.