Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15961| Title: | Особенности РОР-спектроскопии тонких пленок перовскитов |
| Authors: | Афанасьев, Михаил Сергеевич Буров, Анатолий Владимирович Егоров, Владимир Константинович Лучников, Петр Александрович Чучева, Галина Викторовна |
| Keywords: | физика; перовскиты; тонкие пленки; РОР-спектроскопия; особенности; ионопучковая диагностика; резерфордовское обратное рассеяние; сегнетоэлектрические пленки; оксид магния; барий; стронций; титан |
| Issue Date: | 2012 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Особенности РОР-спектроскопии тонких пленок перовскитов / М. С. Афанасьев [и др.] // Вестник науки Сибири. — 2012. — № 1 (2). — [С. 126-133]. |
| Abstract: | Проведены исследования тонких перовскитных пленок барий-стронциевого титаната (Ba1-xSrxTiO3) на монокристаллических подложках типа Si [100], MgO [100] и NdGaO3 [100] методом резерфордовского обратного рассеяния (РОР) ионов гелия и рентгенофлуоресцентного анализа при полном внешнем отражении потока возбуждения. Рассмотрены особенности метода РОР-спектроскопии и его ожидаемое следствие при анализе тонких перовскитных пленок Ba1-xSrxTiO3 на различных типах монокристаллических подложек. Определена степень их элементной неоднородности по толщине и степень диффузионного загрязнения атомами подложек. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15961 |
| ISSN: | 2226-0064 |
| Appears in Collections: | Векторы благополучия: экономика и социум |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.