Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076
Название: Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques
Авторы: Пустовалова, Алла Александровна
Иванова, Нина Михайловна
Научный руководитель: Пичугин, Владимир Федорович
Ключевые слова: тонкие пленки; диоксид титана; рентгеновская дифракция; ИК-спектроскопия
Дата публикации: 2015
Библиографическое описание: Пустовалова А. А. Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques / А. А. Пустовалова, Н. М. Иванова ; науч. рук. В. Ф. Пичугин // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 1079-1081].
Аннотация: В работе приводятся результаты исследования структуры и химического состава азотсодержащих тонких пленок диоксида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления. Приведены результаты анализа изменения структуры и фазового состава тонких пленок диоксида титана при увеличении содержания азота в газовой смеси методом рентгеновской дифракции. Химические связи, присутствующие в пленках, исследовались методом ИК-спектроскопии.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
conference_tpu-2015-C21-343.pdf320,09 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.