Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076| Title: | Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques |
| Authors: | Пустовалова, Алла Александровна Иванова, Нина Михайловна |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Пичугин, Владимир Федорович |
| Keywords: | тонкие пленки; диоксид титана; рентгеновская дифракция; ИК-спектроскопия |
| Issue Date: | 2015 |
| Citation: | Пустовалова А. А. Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques / А. А. Пустовалова, Н. М. Иванова ; науч. рук. В. Ф. Пичугин // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 1079-1081]. |
| Abstract: | В работе приводятся результаты исследования структуры и химического состава азотсодержащих тонких пленок диоксида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления. Приведены результаты анализа изменения структуры и фазового состава тонких пленок диоксида титана при увеличении содержания азота в газовой смеси методом рентгеновской дифракции. Химические связи, присутствующие в пленках, исследовались методом ИК-спектроскопии. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2015-C21-343.pdf | 320,09 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.