Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076
Title: | Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques |
Authors: | Пустовалова, Алла Александровна Иванова, Нина Михайловна |
metadata.dc.contributor.advisor: | Пичугин, Владимир Федорович |
Keywords: | тонкие пленки; диоксид титана; рентгеновская дифракция; ИК-спектроскопия |
Issue Date: | 2015 |
Citation: | Пустовалова А. А. Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques / А. А. Пустовалова, Н. М. Иванова ; науч. рук. В. Ф. Пичугин // Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 21-24 апреля 2015 г. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — [С. 1079-1081]. |
Abstract: | В работе приводятся результаты исследования структуры и химического состава азотсодержащих тонких пленок диоксида титана, осажденных методом реактивного магнетронного распыления. Приведены результаты анализа изменения структуры и фазового состава тонких пленок диоксида титана при увеличении содержания азота в газовой смеси методом рентгеновской дифракции. Химические связи, присутствующие в пленках, исследовались методом ИК-спектроскопии. |
URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/19076 |
Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
conference_tpu-2015-C21-343.pdf | 320,09 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.