Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20751| Название: | О методах оценки надежности полупроводниковых устройств силовой электротехники |
| Авторы: | Кравченко, Евгений Владимирович |
| Ключевые слова: | полупроводниковые устройства; электротехника; электроэнергетика; преобразования; диоды; тиристоры |
| Дата публикации: | 2014 |
| Издатель: | Изд-во ТПУ |
| Библиографическое описание: | Кравченко Е. В. О методах оценки надежности полупроводниковых устройств силовой электротехники / Е. В. Кравченко // Современные техника и технологии : сборник трудов XX международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Томск, 14-18 апреля 2014 г. : в 3 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — Т. 1. — [С. 25-26]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20751 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2014-C01-V1-011.pdf | 325,94 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.