Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20751
Название: О методах оценки надежности полупроводниковых устройств силовой электротехники
Авторы: Кравченко, Евгений Владимирович
Ключевые слова: полупроводниковые устройства; электротехника; электроэнергетика; преобразования; диоды; тиристоры
Дата публикации: 2014
Издатель: Изд-во ТПУ
Библиографическое описание: Кравченко Е. В. О методах оценки надежности полупроводниковых устройств силовой электротехники / Е. В. Кравченко // Современные техника и технологии : сборник трудов XX международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Томск, 14-18 апреля 2014 г. : в 3 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — Т. 1. — [С. 25-26].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20751
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
conference_tpu-2014-C01-V1-011.pdf325,94 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.