Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20751
Title: О методах оценки надежности полупроводниковых устройств силовой электротехники
Authors: Кравченко, Евгений Владимирович
Keywords: полупроводниковые устройства; электротехника; электроэнергетика; преобразования; диоды; тиристоры
Issue Date: 2014
Publisher: Изд-во ТПУ
Citation: Кравченко Е. В. О методах оценки надежности полупроводниковых устройств силовой электротехники / Е. В. Кравченко // Современные техника и технологии : сборник трудов XX международной научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Томск, 14-18 апреля 2014 г. : в 3 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2014. — Т. 1. — [С. 25-26].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/20751
Appears in Collections:Материалы конференций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
conference_tpu-2014-C01-V1-011.pdf325,94 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.