Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/2185
Название: Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла
Авторы: Кузнецов, Гений Владимирович
Мамонтов, Геннадий Яковлевич
Титов, Александр Валерьевич
Ключевые слова: транзисторы; окисление; металлы; численное моделирование; температурные поля; полупроводниковые приборы; проводники
Дата публикации: 2008
Издатель: Томский политехнический университет
Библиографическое описание: Кузнецов Г. В. Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла / Г. В. Кузнецов, Г. Я. Мамонтов, А. В. Титов // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2008. — Т. 312, № 4 : Энергетика. — [С. 135-140].
Аннотация: Проведено численное моделирование нестационарного двумерного температурного поля токоведущей дорожки полупроводникового прибора для двух случаев работы типичного силового транзистора: в условиях окисления проводника кислородом воздуха, и без протекания процесса окисления металла. Сопоставлены интенсивности отказов транзистора для этих двух случаев. Показано, что изменение интенсивности отказов в условиях окисления составляет не менее 50 %. Установлено, что при оценке показателей надежности приборов необходимо проводить анализ с учетом процесса окисления металла.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/2185
Располагается в коллекциях:Известия ТПУ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
bulletin_tpu-2008-312-4-30.pdf499,32 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.