Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/2185| Title: | Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла |
| Authors: | Кузнецов, Гений Владимирович Мамонтов, Геннадий Яковлевич Титов, Александр Валерьевич |
| Keywords: | транзисторы; окисление; металлы; численное моделирование; температурные поля; полупроводниковые приборы; проводники |
| Issue Date: | 2008 |
| Publisher: | Томский политехнический университет |
| Citation: | Кузнецов Г. В. Оценка надежности типичного транзистора в условиях окисления металла / Г. В. Кузнецов, Г. Я. Мамонтов, А. В. Титов // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]. — 2008. — Т. 312, № 4 : Энергетика. — [С. 135-140]. |
| Abstract: | Проведено численное моделирование нестационарного двумерного температурного поля токоведущей дорожки полупроводникового прибора для двух случаев работы типичного силового транзистора: в условиях окисления проводника кислородом воздуха, и без протекания процесса окисления металла. Сопоставлены интенсивности отказов транзистора для этих двух случаев. Показано, что изменение интенсивности отказов в условиях окисления составляет не менее 50 %. Установлено, что при оценке показателей надежности приборов необходимо проводить анализ с учетом процесса окисления металла. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/2185 |
| Appears in Collections: | Известия Томского политехнического университета. Инжиниринг георесурсов |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| bulletin_tpu-2008-312-4-30.pdf | 499,32 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.