Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23729| Название: | Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП |
| Авторы: | Ван Юй |
| Научный руководитель: | Гольдштейн, Александр Ефремович |
| Ключевые слова: | толщина; изоляционные оболочки; жилы; кабели; провода; изоляция; вихретоковые преобразователи |
| Дата публикации: | 2015 |
| Издатель: | Изд-во ТПУ |
| Библиографическое описание: | Ван Юй. Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП / Ван Юй ; науч. рук. А. Е. Гольдштейн // Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность : сборник трудов V Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 25-29 мая 2015 г. : в 2 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — Т. 1. — [253-257]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23729 |
| Располагается в коллекциях: | Материалы конференций |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2015-C36-V1-067.pdf | 573,7 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.