Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23729
Название: Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП
Авторы: Ван Юй
Научный руководитель: Гольдштейн, Александр Ефремович
Ключевые слова: толщина; изоляционные оболочки; жилы; кабели; провода; изоляция; вихретоковые преобразователи
Дата публикации: 2015
Издатель: Изд-во ТПУ
Библиографическое описание: Ван Юй. Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП / Ван Юй ; науч. рук. А. Е. Гольдштейн // Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность : сборник трудов V Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 25-29 мая 2015 г. : в 2 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — Т. 1. — [253-257].
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23729
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
conference_tpu-2015-C36-V1-067.pdf573,7 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.