Please use this identifier to cite or link to this item:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23729| Title: | Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП |
| Authors: | Ван Юй |
| metadata.dc.contributor.advisor: | Гольдштейн, Александр Ефремович |
| Keywords: | толщина; изоляционные оболочки; жилы; кабели; провода; изоляция; вихретоковые преобразователи |
| Issue Date: | 2015 |
| Publisher: | Изд-во ТПУ |
| Citation: | Ван Юй. Измерение толщины изоляционной оболочки секторной жилы накладным ВТП / Ван Юй ; науч. рук. А. Е. Гольдштейн // Неразрушающий контроль: электронное приборостроение, технологии, безопасность : сборник трудов V Всероссийской научно-практической конференции студентов, аспирантов и молодых учёных, Томск, 25-29 мая 2015 г. : в 2 т. — Томск : Изд-во ТПУ, 2015. — Т. 1. — [253-257]. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/23729 |
| Appears in Collections: | Материалы конференций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| conference_tpu-2015-C36-V1-067.pdf | 573,7 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.