Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/29043
Название: Методика радиационного контроля композиционных материалов
Авторы: Апотин, Виталий Сергеевич
Научный руководитель: Бориков, Валерий Николаевич
Ключевые слова: метрология; томография; композиционные материалы; функция передачи модуляции; функция рассеяния точки; функция рассеяния линии; функция отклика границы; metrology; tomography; composite materials; modulation transfer function; point spread function; line spread function; edge response function
Дата публикации: 2016
Библиографическое описание: Апотин В. С. Методика радиационного контроля композиционных материалов : дипломный проект / В. С. Апотин ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Институт неразрушающего контроля (ИНК), Кафедра точного приборостроения (ТПС) ; науч. рук. В. Н. Бориков. — Томск, 2016.
Аннотация: Объектом исследования являются: метод определения толщины карбидокремниевого покрытия на углерод-углеродном основании и методика измерения метрологических характеристик томографической системы. Цель работы – разработка методики контроля толщины покрытия и метрологическое подтверждение измеренных данных. В процессе исследования проводились теоретические и экспериментальные работы, связанные с разработкой методики контроля толщины карбидокремниевого покрытия. В результате исследования проведены испытания для определения метрологических характеристик томографической системы и измерение толщины карбидокремниевого покрытия.
The object of the study: the method of determining the thickness of the silicon carbide coating on the carbon-carbon bottom and method for measuring metrological characteristics tomographic system. The purpose of work - development of methods for control of coating thickness and metrological confirmation of the measurement data. The study carried out theoretical and experimental work associated with the development of methods for control silicon carbide coating thickness. As a result of research carried out tests to determine the metrological characteristics of the tomographic measurement system and silicon carbide coating thickness.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/29043
Располагается в коллекциях:ВКР

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
TPU207594.pdf3,86 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.