Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33961
Название: Thermal damage at short electron bunches passage through a thin target
Авторы: Babaev, Anton Anatoljevich
Gogolev, Aleksey Sergeevich
Ключевые слова: тепловые повреждения; электронные сгустки; мишени; электронные лучи
Дата публикации: 2016
Издатель: IOP Publishing
Библиографическое описание: Babaev A. A. Thermal damage at short electron bunches passage through a thin target / A. A. Babaev, A. S. Gogolev // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 732 : Radiation from Relativistic Electrons in Periodic Structures (RREPS2015) : XI International Symposium, 6–11 September 2015, Saint Petersburg, Russian Federation : [proceedings]. — [012030, 7 p.].
Аннотация: The thin target could be used for beam diagnostics by means the radiation that is induced by interaction of beam particles with target matter. The electron beams used in modern applications (as, for example, modern FELs) have very large brightness, small emittance as well as very short bunch length. For example, the bunch length of XFEL is about of 25 um at bunch charge order of 1 nC and with electrons energy of 17.5 GeV. The passage of this powerful short bunches could damage the target or even completely destroy it. In the presented work the train of such bunches passages through the target is investigated. It is shown the target works in extreme regime close to phase transition temperature.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/33961
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1742-6596-732-1-012030.pdf667,09 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.