Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/34829
Название: Study of the Materials Microstructure using Topological Properties of Complex Networks
Авторы: Semenow, Michael Evgeniewich
Lelushkina (Lelyushkina), Kira Sergeevna
Ключевые слова: микроструктуры; топологические свойства; сложные сети; цветные изображения; теория графов
Дата публикации: 2016
Издатель: IOP Publishing
Библиографическое описание: Semenow M. E. Study of the Materials Microstructure using Topological Properties of Complex Networks / M. E. Semenow, K. S. Lelushkina (Lelyushkina) // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2016. — Vol. 135 : Issues of Physics and Technology in Science, Industry and Medicine : VIII International Scientific Conference, 1–3 June 2016, Tomsk, Russia : [proceedings]. — [012040, 4 p.].
Аннотация: A method for mapping a two-dimensional color image of the microstructure of the material to a complex network is proposed. Each image elements is assigned to node network. A weighted combination of distance metrics - the Euclidean distance and the Manhattan distance - defines whether there is or not an edge between corresponding nodes. The first metric is used to calculate the spatial distance between the picture elements (pixels), the second metric takes into account the contrast between the brightness of pixels in the gray scale. On the basis of the topological properties of the constructed network the edge pixels were detected that allows us to identify the border areas in the microstructure of materials. The proposed method can be used in automated systems of materialographic analysis.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/34829
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1757-899X-135-1-012040.pdf861,82 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.