Please use this identifier to cite or link to this item: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/53812
Title: Миграция дефектов в многослойной структуре Zr-Nb при ионной имплантации
Authors: Очиров, Евгений Эрдэмович
metadata.dc.contributor.advisor: Чистякова, Надежда Владимировна
Keywords: моделирование; многослойный; имплантация; интерфейс; молекулярная динамика; simulation; multilayer; implantation; interface; molecular dynamics
Issue Date: 2019
Citation: Очиров Е. Э. Миграция дефектов в многослойной структуре Zr-Nb при ионной имплантации : бакалаврская работа / Е. Э. Очиров ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ), Отделение экспериментальной физики (ОЭФ) ; науч. рук. Н. В. Чистякова. — Томск, 2019.
Abstract: В работе проведено моделирование воздействия ионным пучком на многослойные металлические покрытия. Исследована эволюция дефектной структуры материалов.
In this paper, we simulated the effects of an ion beam on multilayer metallic coatings. The evolution of the defective structure of materials is investigated.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/53812
Appears in Collections:ВКР

Files in This Item:
File SizeFormat 
TPU707768.pdf3,06 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.