Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://earchive.tpu.ru/handle/11683/53812| Название: | Миграция дефектов в многослойной структуре Zr-Nb при ионной имплантации |
| Авторы: | Очиров, Евгений Эрдэмович |
| Научный руководитель: | Чистякова, Надежда Владимировна |
| Ключевые слова: | моделирование; многослойный; имплантация; интерфейс; молекулярная динамика; simulation; multilayer; implantation; interface; molecular dynamics |
| Дата публикации: | 2019 |
| Библиографическое описание: | Очиров Е. Э. Миграция дефектов в многослойной структуре Zr-Nb при ионной имплантации : бакалаврская работа / Е. Э. Очиров ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Инженерная школа ядерных технологий (ИЯТШ), Отделение экспериментальной физики (ОЭФ) ; науч. рук. Н. В. Чистякова. — Томск, 2019. |
| Аннотация: | В работе проведено моделирование воздействия ионным пучком на многослойные металлические покрытия. Исследована эволюция дефектной структуры материалов. In this paper, we simulated the effects of an ion beam on multilayer metallic coatings. The evolution of the defective structure of materials is investigated. |
| URI: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/53812 |
| Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы (ВКР) |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| TPU707768.pdf | 3,06 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.