Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/55437
Название: Destruction of LED heterostructures under high-current electron beam irradiation
Авторы: Zixuan Li
Jiyao Xian
Sysoyeva, S. G.
Ключевые слова: светодиодные гетероструктуры; облучение; электронные пучки; эпитаксильные слои; сапфировые подложки
Дата публикации: 2019
Издатель: IOP Publishing
Библиографическое описание: Zixuan Li. Destruction of LED heterostructures under high-current electron beam irradiation / Zixuan Li, Jiyao Xian, S. G. Sysoyeva // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — Bristol : IOP Publishing, 2019. — Vol. 511 : Perspective Materials of Constructional and Medical Purpose : International Scientific and Technical Youth Conference, 26–30 November 2018, Tomsk, Russian Federation : [proceedings]. — [012004, 5 p.].
Аннотация: This paper presents the experimental results of the fracture morphology of InGaN/GaN heterostructures and epitaxial GaN layers deposited on sapphire substrates after irradiation with high current electron beams. A special type of damage - microspheres, ~1-5 [mu]m was discovered and studied. The results show that the microspheres act as diffractive optical elements redistributing the stimulated emission of InGaN/GaN in space.
URI: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/55437
Располагается в коллекциях:Материалы конференций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
dx.doi.org-10.1088-1757-899X-511-1-012004.pdf678,59 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.